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oct 2010 AN-2 1200 Diodes V SiC JBS avec charge de récupération inverse capacitive ultra-faible pour les applications à commutation rapide
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Articles techniques:
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Corrélation entre la durée de vie de la recombinaison des porteuses et la chute de tension directe dans les diodes 4H-SiC PiN
Septembre, 2010 Corrélation entre la durée de vie de la recombinaison des porteuses et la chute de tension directe dans les diodes 4H-SiC PiN